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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產(chǎn)品展示--SEM臺式掃描電鏡-賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡
更新時間:2024-11-06
產(chǎn)品型號:
簡要描述:賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡:賽可公司總部位于韓國水原市,是專業(yè)從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)的公司。自2006年推出臺式電鏡以來,賽可憑借其優(yōu)秀的生產(chǎn)工藝和持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新,在國內(nèi)外擁有眾多的用戶。
企業(yè)實力
Enterprise Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY詳細介紹
2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,提高測試效率!
賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡特點:
更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能:顆粒物自動分析,3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測試效率。小巧而精致的設(shè)計,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。
5nmResolution250,000xMagnification:
1、同級別最高性能的StageNavigation功能:優(yōu)于5um的高精密navigation移動,可迅速位移。
2、同級別不二標配全自動5軸樣品臺:搭載全新的第三代操作軟件
3、任何人均可簡單操作
4、強大的自動功能
5、超快的真空系統(tǒng)
Vacuum90sec,Venting15sec
同級別最快的真空系統(tǒng),豐富的擴展功能
3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件
顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)
CompactDesign!更強大的性能!
與現(xiàn)有型號相比,Dimension減少了40%
300(W)x465(D)x600(H)
強化用戶便利功能
自動獲取Navigation圖像
關(guān)閉樣品倉的同時開始自動抽真空
賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡HIGH-PERFORMANCEHARDWARE:
最高放大倍率25萬倍,5nmResolution,實現(xiàn)同級別最高放大倍率及超高分辨率,通過全新的高精密電子光學系統(tǒng),獲取高質(zhì)量圖像。
五軸全自動樣品臺:
優(yōu)于5um的高精密全自動樣品臺,實現(xiàn)迅速位移并精準的找到樣品位置。
小巧而精致的設(shè)計,進一步提高空間使用率。
-與現(xiàn)款相比,Dimension減少40%
-小巧緊湊,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用
-300(W)x465(D)x600(H)
NEW第三代Nano-eye
全新的操作軟件,提高用戶體驗
注重人性化的操作界面,操作更加便捷,在短時間內(nèi)輕松獲取高質(zhì)量圖像
強大的自動功能
*的AutoFocus功能,可快速獲取高質(zhì)量圖像
超大視野拼圖功能:
超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗,通過超大視野拼圖功能,觀測樣品全貌,得到大范圍的高分辨率圖像
所需區(qū)域后無需人員操作,軟件開始自動區(qū)域掃描,并將圖像拼成全景圖像,方便觀測并提高效率。
3D粗糙度分析
通過四分割BSE探測器,重構(gòu)3D立體圖像,簡單快速的分析表面粗糙度
EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號進行定性和定量分析。
Features:
硅漂移探測器(SDD)
30mm2有效面積
超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),
能量分辨率MnKα≤129eV
帕爾貼制冷,無需液氮或其他冷卻劑
簡便的操作軟件,快速實現(xiàn)對材料的微區(qū)化學成分分析
主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等
規(guī)格:
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